RF技術とメカトロニクス
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未来を創造する

EMCソリューション

電磁界測定及び電磁波の可視化測定に対する要求は、LSI内部の微細領域の測定から、車両など大きな機器の測定まであります。弊社では、100μmステップのスキャナから、10m規模まで測定可能な3次元空間電磁視界可視化システムのご提供により、LSI・プリント基板・電子機器・車両測定などに対応しています。弊社開発の近磁界プローブや小型3軸センサー等の組み合わせで、様々な測定要求に対応した電磁波計測の提案が可能です。